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- GB/T 40066-2021 《纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法》
- GB/T 42240-2022《纳米技术 石墨烯粉体中金属杂质的测定 电感耦合等离子体质谱法》
- GB/T 42310-2023《纳米技术 石墨烯粉体比表面积的测定 氩气吸附静态容量法》
- GB/T 43598-2023《纳米技术 石墨烯粉体氧含量和碳氧比的测定 X射线光电子能谱法》
- GB/T 45114-2024《纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》
- YB/T 6183-2024《石墨烯粉体 碳、氢、氮、硫、氧含量的测定 元素分析仪法》
- YB/T 6182-2024《氧化石墨烯粉体定性分析 傅里叶变换红外光谱法》
- T/CSTM 00003-2019《二维材料厚度测量 原子力显微镜法》
- T/CSTM 00166.1-2020《石墨烯材料表征 第1部分 拉曼光谱法》
- T/CSTM 00166.2-2020《石墨烯材料表征 第2部分 X射线衍射法》
- T/CSTM 00166.3-2020《石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法》
- T/CSTM 00168-2020《石墨烯粉体材料判定指南》
- T/CSTM 00197-2021《石墨烯量子点 蓝光发射相对荧光量子产率测定 分子荧光光谱法》
- T/CSTM 00198-2021《石墨烯量子点 类酶活力测定 紫外/可见分光光度法》
- T/CSTM 00591-2022 《石墨烯-铜薄膜材料电导率测量 范德堡法》
- T/CSTM 01708-2025《基于铜衬底化学气相沉积法（CVD）石墨烯薄膜评价指南》
- T/CSTM 01519-2025 《石墨烯导热膜评价指南》
- T/CSTM 01769-2025《导热膜面内热扩散系数的测量 闪光法》
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